| Title | 전기충격과 화학적 돌연변이원 N-methyl-N'-nitro-N-nitrosoguanidine의 병행처리에 의한 방선균과 효모의 돌연변이 유발 | ||
| Author | 선종호2,3 · 김정희1 · 박은미2,3 · 김근1 * | ||
| Address | 1수원대학교 유전공학연구소; 2수원대학교 생명과학부; 3서울대학교 분자미생물학 연구센터 | ||
| Bibliography | Korean Journal of Microbiology, 33(3),199-202, 1997 | ||
| DOI | |||
| Key Words | Electric shock, NTG, mutation, Streptomyces, Saccharomyces | ||
| Abstract | 방선균(Streptomyces) 포자와 효모(Saccharomyces) 반수체 및 배수체 세포를 대상으로 전기충격(AC 38V/1.3 cm)이 화학적 돌연변이원인 N-methyl-N'-nitro-N-nitrosoguanidine(NTG)의 세포치사효과와 돌연변이 유발에 미치는 영향을 조사하였다. 방선균의 경우 전기충격 단독 처리로는 180분 처리하였을 때 생존율이 100%이었으나 960분 처리한 경우에는 모두 사멸하였다. 전기충격과 NTG처리를 병행한 바 방성균의 경우 180분 처리시, NTG 단독 처리시보다 생존율이 72%에서 48%로 감소되었고, 반수체 효모의 경우 40분 처리시 8%에서 3%로, 배수체 효모의 경우 25%에서 10%로 각각 감소되었다. 전기충격과 NTG에 의한 영양요구 돌연변이 형성율에 있어서는 전기충격이 NTG에 의한 돌연변이율을 120분 처리 후 1.8%에서, 13.6%로, 반수체효모의 경우 40분 처리후 2.4%에서 4.8%로 각각 증가시켰다. | ||
| Download PDF | Kor_330308_199-202p.pdf | ||